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关于三星高容贴片电容容量偏低说明

来源:贴片电容 发布时间:2018-10-25 浏览:196

  关于三星高容贴片电容容量偏低说明


  如果是 NP0的。这种材料没有衰减,那么容量偏低,如果测试条件(频率、电压)选择正确,就是产品问题。


  如果是X7R X5R Y5V Z5U,是有老化特性的,由于产品时间长放置容量会衰减,但是这种过程是可逆的,当我们在给产品加热到一定程度后(通过居里点30分,不包括加热过程时间和冷却时间),然后冷却大概12~24小时,测试才准确。如果还低,那得考虑是不是产品本身的问题了。



 

  容乐电子有送过一批三星贴片电容至客户处测试,发现几个高容产品的型号容量偏低,高容贴片电容型号容量为什么会偏低,下面小编为大家分析一下:


  首先,三星贴片电容送样容量偏低的型号如下:

  C 0805 X5R 22UF M 10V 15pcs

  C 0805 X5R 10UF K 10V 15PCS

  C 0805 X5R 4.7UF K 25V 15PCS

  C 0805 X7R 2.2UF K 16V 15PCS

  C 0805 X5R 10UF K 16V 15PCS

  C 0603 X7R 4.7UF K 16V 15PCS

  C 1206 X5R 10UF K 16V 15PCS

  看过客户的测试报告,客户的测试要求跟条件都是符合的,那为什么测试出容值NG呢?我们需要了解一些专业的知识,MLCC Ceramic 材料分为ClassI(CaTiO3 材料C0G,NPO等)与ClassII( BaTiO3材料X5R,X7R,Y5V等)BaTiO3材质MLCC的电容量随时间而减小,这一特性称之为电容老化。


  电容老化是具有自发性极化现象的铁电陶瓷独有的现象,是不可避免的自然现象。

  当陶瓷电容器加热到居里点(大约为150℃)以上的温度时,晶体结构发生改变,自发性极化消失, 并使之处于无载荷状态。直到冷却至居里点以下,随着时间的流逝,逆转自发性极化变得越来越困难,结果,所测的电容值会随着时间而减小。


  当在居里点以下温度时BaTiO3的晶体结构发生偏移, 导致正、负电荷的生点发生偏差,造成极化现象。


  什么是de-aging?如何实现de-aging?

  老化是一种可逆的现象,当对老化的材料加以高于居里温度的高温,材料的分子结构将会回到 原始状态。材料将由此开始老化的又一个循环。


  贴片电容厂家建议进行de-aging所使用之条件为150℃+0/-10 ℃ /1hour。即可以将产品回到原始之正常规格之内。


  是否只有三星的MLCC产品有老化现象?

  回答是否定的。老化现象发生在任何一家厂商的ClassⅡ(BaTiO3)类陶瓷电容器。它是普遍的自然现象。如果有遇到此类问题可以联系容乐电子进行技术分析。

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